Fronheiser, Jody A.: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (30)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Assessment of critical dimension small-angle x-ray scattering measurement approaches for FinFET fabrication process monitoring

Settens, Charles, Cordes, Aaron, Bunday, Benjamin, Bello, Abner, Kamineni, Vimal, Paul, Abhijeet, Fronheiser, Jody, Matyi, Richard

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.12 MB

english, 2014

2

Assessment of critical dimension small-angle x-ray scattering measurement approaches for FinFET fabrication process monitoring

Settens, Charles, Cordes, Aaron, Bunday, Benjamin, Bello, Abner, Kamineni, Vimal, Paul, Abhijeet, Fronheiser, Jody, Matyi, Richard

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.12 MB

english, 2014

3

6H and 4H-SiC Avalanche Photodiodes

Rowland, L.B., Wyatt, Jeffery L., Fronheiser, Jody A., Vert, Alexey V., Sandvik, Peter M., Borsa, T., Van Zeghbroeck, J., Van Zeghbroeck, Bart, Babu, S.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 248 KB

english, 2009

4

SOLAR-BLIND SINGLE-PHOTON 4H-SiC AVALANCHE PHOTODIODES

VERT, ALEXEY, SOLOVIEV, STANSILAV, FRONHEISER, JODY, SANDVIK, PETER

Журнал:

International Journal of High Speed Electronics and Systems

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 319 KB

english, 2009

5

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 24 February 2013)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVII - Mueller based scatterometry measurement of nanoscale structures with anisotropic in-plane optical properties

Muthinti, Gangadhara R., Medikonda, Manasa, Fronheiser, Jody, Kamineni, Vimal K., Peterson, Brennan, Race, Joseph, Diebold, Alain C., Starikov, Alexander, Cain, Jason P.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.65 MB

english, 2013

6

Solar-Blind 4H-SiC Avalanche Photodiodes

Soloviev, Stanislav I., Vert, Alexey V., Fronheiser, Jody A., Sandvik, Peter M.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 632 KB

english, 2009

7

Measurement of periodicity and strain in arrays of single crystal silicon and pseudomorphic Si1−xGex/Si fin structures using x-ray reciprocal space maps

Medikonda, Manasa, Muthinti, Gangadhara R., Fronheiser, Jody, Kamineni, Vimal, Wormington, Matthew, Matney, Kevin, Adam, Thomas N., Karapetrova, Evguenia, Diebold, Alain C.

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.74 MB

english, 2014

8

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 26 February 2017)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXI - Advanced applications of scatterometry based optical metrology

Sanchez, Martha I., Ukraintsev, Vladimir A., Dixit, Dhairya, Keller, Nick, Kagalwala, Taher, Recchia, Fiona, Lifshitz, Yevgeny, Elia, Alexander, Todi, Vinit, Fronheiser, Jody, Vaid, Alok

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 871 KB

english, 2017

9

[IEEE 2008 33rd IEEE Photovolatic Specialists Conference (PVSC) - San Diego, CA, USA (2008.05.11-2008.05.16)] 2008 33rd IEEE Photovolatic Specialists Conference - a-Si/c-Si interfaces: The effect of annealing and film thickness

Zhang, Xiaolan, Fronheiser, Jody A., Korevaar, Bas A., Tolliver, Todd R.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.94 MB

english, 2008

10

[IEEE 2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS) - College Park, MD, USA (2011.12.7-2011.12.9)] 2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS) - Spin dependent charge pumping: A new tool for MOS interface characterization

Bittel, Brad C., Lenahan, Patrick M., Ryan, Jason T., Fronheiser, Jody, Lelis, Aivars J.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 262 KB

english, 2011

11

Silicon carbide oxidation in the presence of cesium: Modeling and analysis

Chatterjee, Aveek, Piao, Hong, Matocha, Kevin, Fronheiser, Jody, Tilak, Vinayak, Smentkowski, Vincent

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.15 MB

english, 2010

12

[IEEE LEOS 2007 - IEEE Lasers and Electro-Optics Society Annual Meeting - Lake Buena Vista, FL, USA (2007.10.21-2007.10.25)] LEOS 2007 - IEEE Lasers and Electro-Optics Society Annual Meeting Conference Proceedings - Weak Signals Detection and Single Photon Counting with Ultraviolet SiC-based Avalanche Photodiodes

Vertiatchikh, Alexei, Sandvik, Peter, Soloviev, Stanislav, Cha, Ho-Young, Fronheiser, Jody

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 197 KB

english, 2007

13

SiC Nanowires by Silicon Carburization

Tsakalakos, Loucas, Fronheiser, Jody, Rowland, Larry, Rahmane, Mohamed, Larsen, Michael, Gao, Yan

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 688 KB

english, 2006

14

Time Resolved Photoconduction Studies of Uniformly Doped and p-n Junction Si Nanowires

Tsakalakos, Loucas, Michael, Darryl, Fronheiser, Jody, Balch, Joleyn, Wortman, Robert, Wilson, Paul, White, David, Boone, Rolf, LeBoeuf, Stephen

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 173 KB

english, 2006

15

EDMR and EPR Studies of 4H SiC MOSFETs and Capacitors

Cochrane, Corey J., Bittel, Brad C., Lenahan, Patrick M., Fronheiser, Jody A., Matocha, Kevin, Lelis, Aivars J.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 505 KB

english, 2010

16

Progress in Cold-Wall Epitaxy for 4H-SiC High-Power Devices

Rowland, L.B., Dunne, Greg, Fronheiser, Jody A., Soloviev, Stanislav I.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 489 KB

english, 2007

17

Frequency-Dependent Charge Pumping on 4H-SiC MOSFETs

Yu, Liang Chun, Fronheiser, Jody, Tilak, Vinayak, Cheung, Kin P.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 381 KB

english, 2012

18

Epitaxial Growth and Characterization of SiC on Different Orientations

Rowland, Larry B., Li, Canhua, Dunne, Greg T., Fronheiser, Jody A.

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 706 KB

english, 2006

19

4H-SiC Oxide Characterization with SIMS Using a 13C Tracer

Fronheiser, Jody A., Matocha, Kevin, Tilak, Vinayak, Feldman, Leonard C.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 260 KB

english, 2009

20

Multiscale Modeling and Analysis of the Nitridation Effect of SiC/SiO2 Interface

Chatterjee, Aveek, Matocha, Kevin, Tilak, Vinayak, Fronheiser, Jody A., Piao, Hong

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 472 KB

english, 2010

21

Influence of Defects in 4H-SiC Avalanche Photodiodes on Geiger-Mode Dark Count Probability

Vert, Alexey V., Soloviev, Stanislav I., Fronheiser, Jody A., Sandvik, Peter M.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 631 KB

english, 2009

22

Positive Temperature Coefficient of Avalanche Breakdown Observed in a-Plane 6H-SiC Photodiodes

Soloviev, Stanislav I., Vert, Alexey V., Fronheiser, Jody A., Sandvik, Peter M.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 423 KB

english, 2009

23

Implementation of Sub-Resolvable Features for Precise Electrical Characterization of SiC Gate Oxide Parameters

McMahon, J. Jay, Yu, Liang Chun, Fronheiser, Jody, Elson, J.T., Kovalec, Roger, Kretchmer, Jim, Tilak, Vinayak

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.13 MB

english, 2012

24

Evaluation of 4H-SiC Carbon Face Gate Oxide Reliability

Fronheiser, Jody A., Chatterjee, Aveek, Grossner, Ulrike, Matocha, Kevin, Tilak, Vinayak, Yu, Liang Chun

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 229 KB

english, 2011

25

Comparison of 4H-SiC MOSFETs on (0001), (000-1) and (11-20) Oriented Substrates

Naik, H., Tang, K., Marron, T., Chow, T.P., Fronheiser, Jody A.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 484 KB

english, 2009

26

[IEEE 2006 IEEE 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conference - Waikoloa, HI (2006.05.7-2006.05.12)] 2006 IEEE 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conference - Interaction of Light with Si Nanowire Films

Tsakalakos, Loucas, Balch, Joleyn, Fronheiser, Jody, Shih, Min-yi, LeBoeuf, Stephen, Pietrzykowski, Matthew, Codella, Peter, Sulima, Oleg, Rand, Jim, Kumar, Anil, Korevaar, Bas

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 512 KB

english, 2006

27

SPIE Proceedings [SPIE Optics East 2006 - Boston, MA (Sunday 1 October 2006)] Nanomaterial Synthesis and Integration for Sensors, Electronics, Photonics, and Electro-Optics - Heterogeneous integration of semiconducting and carbide nanowires on Si substrates

Tsakalakos, Loucas, Dhar, Nibir K., Dutta, Achyut K., Taylor, Seth T., Corderman, Reed R., Islam, M. Saif, Balch, Joleyn, Fronheiser, Jody

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.65 MB

english, 2006

28

First-Principles Investigations of TiGe/Ge Interface and Recipes to Reduce the Contact Resistance

Dixit, Hemant, Niu, Chengyu, Raymond, Mark, Kamineni, Vimal, Pandey, Rajan K., Konar, Anirudhha, Fronheiser, Jody, Carr, Adra V., Oldiges, Phil, Adusumilli, Praneet, Lanzillo, Nicholas A., Miao, Xin,

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.06 MB

english, 2017

29

CMP Challenges for Advanced Technology Nodes beyond Si

Zhang, John H, Tsai, Stan, Surisetty, Charan, Fronheiser, Jody, Siddiqui, Shariq, Bentley, Steven, Patlolla, Raghuveer, Canaperi, Donald F., Kleemeier, Walter, Labelle, Cathy

Журнал:

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 663 KB

english, 2017

30

(Invited) Extending Advanced CMOS Scaling with SiGe Channel Materials

Carter, Rick J, Sporer, Ryan, McArdle, Timothy J, Mulfinger, George Robert, Holt, Judson Robert, Beasor, Scott, Child, Amy, Fronheiser, Jody, Wahl, Jeremy A, Geisler, Holm, Kluth, George J, Triyoso, D

Журнал:

ECS Transactions

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 664 KB

english, 2018